'이차이온질량분석 국제학회' 한국서 첫 개최…다학제 융합연구 석학들 한자리

 

 

 

  

지난 9월 29일부터 10월 4일까지 제주국제컨벤션센터에서 열린 제19회 이차이온질량분석 국제학술대회(Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS-19)가 성황리에 마무리됐다. 이번 학회에는 물리·화학·재료·반도체 등의 다학제 융합연구의 세계적인 석학350여명이 한자리에 모여 SIMS의 원리 및 응용에 대한 열띤 토론이 이뤄졌다.

 

 

 

SIMS 학회는 유럽, 미주, 아시아를 돌아가며 2년마다 개최되는 국제학술대회로, 올해 19회를 맞아 한국에서 처음으로 열렸다. 그간 유럽과 미주 지역을 위주로 학회가 열렸으며, 아시아에서는 일본만 유일하게 개최했다.

 

이번 국제학술대회는 표면적으로 한국진공학회 주관으로 진행되었지만, 실제로는 표면분석측정클럽 운영위원회가 학회를 진행했다. 표면분석측정클럽 회장인 문대원 박사와 부회장인 강희재 교수 및 이연희 박사가 공동의장이 되고 간사인 김경중 박사를 포함한 운영위원들이 주요 집행위원으로 행사를 마련했다.

 

SIMS-19 조직위원장이자 표면분석측정클럽 회장인 문대원 박사는 "이번 학회는 이차이온질량분석법의 원리 및 응용에 대해 세계 석학들과 나눌 수 있는 최고의 기회로 국내 첨단 분석 기술 연구, 반도체 산업, 소재 산업, 바이오의료 산업 등 첨단산업의 기술 발전에 좋은 기회가 됐다"고 밝혔다.

 

 

 

이차이온질량분석법은 물리, 화학, 재료, 반도체 등의 여러 분야가 참여하는 다학제 융합 연구 분야로서 이온과 고체 표면의 충돌 현상과 표면 이온화 과정을 이용해 물체 표면의 극미량 성분 분석 및 깊이 분포를 측정하는 기술이다.

 

그 동안 독일, 프랑스, 영국 등 유럽에서는 기초 연구와 장비 개발이 주로 이루어져 왔으며 미국과 일본 등에서는 반도체 산업을 위주로 한 활용 분야의 연구가 주로 진행돼 왔다.

 

한국은 반도체 및 디스플레이 분야의 선진국으로서 SIMS 기초 원리 및 분석 장비 개발 등의 기초 연구보다는 반도체 분석, 신소재 분석 및 유기생체 고분자 분석 등 다양한 SIMS 응용 연구를 주로 하고 있다.

 

표면분석측정클럽 간사인 김경중 박사는 "첨단산업과 관련된 대표적인 표면분석법인 이차이온질량분석의 국제학회를 처음으로 한국에서 개최를 했다는 데 큰 의미가 있다"며 "더욱이 산업체, 연구소 및 대학교에서 세계적으로 유명한 석학들이 참가해 관련 분야를 미래를 논의했다는 데 더 큰 의미가 있다"고 말했다.

 

 

 

김 간사는 이번 학회의 한국 유치와 관련해 뒷이야기도 살짝 전했다.

 

그는 "개최지가 4년 전에 미리 결정이 난다. 한국도 학회 유치를 위해 많은 노력을 펼쳤지만 중국 역시 많은 노력을 한 것으로 알고 있다”며 “한국으로 결정된 것은 차기 개최지를 결정하는 국제위원회(international committee)에서 한국이 2004년에 제주에서 연 국제학술대회 PSA-04를 비롯해 매년 개최되는 표면분석심포지엄이 아주 성공적으로 이뤄지고 있음을 높이 평가한 결과”라고 밝혔다.

 

또 "만약 올해 우리가 유치하지 못했다면 12년 후에나 유치가 가능했을 것"이라고 덧붙였다.

 

그는 “전 세계적으로 경제 상황이 좋지 않은 상황에서 개최돼 외국인 참가자 수가 크게 줄었고 국제학술대회 개최 시에 지원되던 정부지원금마저 보조되지 않아 재정적으로 큰 어려움이 예상됐었다”며 “그러나 주요 표면분석장비 회사들의 대대적인 지원과 그간 표면분석심포지엄을 통해 형성된 표면분석커뮤니티를 통해 국내 산업체, 대학교, 연구원의 적극적인 참여에 힘입어 충분한 참가자와 발표 논문을 확보했고, 3억 원이 넘게 드는 학회 경비를 충당할 수 있어 성공적으로 학회가 진행됐다"고 말했다.

 

 

◆ '균형 이룬 주제'…SIMS-19 성공 비법

 

이번 학회에서는 바이오의료, 클러스터 스퍼터링, 깊이분포도, 반도체/디스플레이 등을 포함한 17개 세션에서 300여 편의 논문이 발표됐다. 이렇게 학회가 성공적으로 마무리된 데는 한국의 산업 현황을 고려한 주제 선정이 큰 역할을 했다.

 

이번 학회의 모토는 “Balance between Dynamic SIMS and Static SIMS, Academia and Industries, Fundamentals and Applications”로서 한 방향으로 치중되었던 그 동안의 학회와는 다르게 균형감 있는 주제 선정으로 참가자들의 호응을 불러일으켰다.

 

 

 

바이오 및 의료 산업이 발전하고 비행시간형 이차이온질량분석법(TOF-SIMS) 개발을 주도한 유럽은 정적 이차이온질량분석법(static SIMS)이 강한 반면 반도체 산업이 발전된 한국, 일본 및 미국은 동적 이차이온질량분석법(dynamic SIMS)이 강한 편이다.

 

그간의 학회는 주로 정적 이차이온질량분석법 쪽에 치우친 경향이 있었지만 이번 학회에서는 두 성향의 균형을 이룰 수 있는 내용들로 꾸며졌다. 또한 학계와 산업계 간의 균형을 고려했으며, 기초 연구와 응용 연구 간에도 균형을 이루도록 했다. 이러한 노력의 결과로 그동안 소외감을 느꼈던 분야의 많은 참여를 이끌어냈으며 실제로 외국인 참가자들의 만족감이 상당히 높았다.

 

이번 학회 개최를 위한 준비기간이 꼬박 2년 이상이 걸렸다. 발표 세션을 구성하고, 진행 경비를 마련하고, 각 분야의 저명 연사를 초청하는 등 학회 전반에 관한 준비와 함께 한국을 알릴 수 있는 문화 행사도 함께 준비했다.

 

 

 

김경중 간사는 "이번 SIMS 국제학술대회의 성공적 개최는 한국의 표면분석 커뮤니티의 수준을 한 단계 끌어올리는 계기가 됐다”며 “이번 학회가 우리나라 반도체, 디스플레이, 태양전지 등의 첨단산업에 도움이 될 것으로 기대한다"고 밝혔다.

 

SIMS 분야의 국제권위자이며 2015년에 미국 시애틀에서 SIMS-20을 주관하는 워싱턴대학교 David Castner 교수는 “이번 학회처럼 산업체, 연구소 및 대학교가 골고루 참여한 점과 각 분야가 균형 있게 반영된 점이 매우 인상적이었으며 차기 학회에도 이러한 기조를 유지하며 더욱 발전하도록 노력하겠다”라고 피력했다.